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高低溫快速溫變試驗(yàn)箱
產(chǎn)品用途:
皓天高低溫快速溫變試驗(yàn)箱能使箱內(nèi)環(huán)境和被測產(chǎn)品產(chǎn)生快速溫度變化,從而大大減少了試驗(yàn)時(shí)間,提高了試驗(yàn)的工作效率??焖贉囟茸兓彩贡粶y產(chǎn)品產(chǎn)生了更大的應(yīng)力,因而也提高了應(yīng)力篩選效率。
1.適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、自動化零組件,汽車部件,電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品,塑膠,化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)(沖擊).
2.適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品電子零組件,成品、半成品、半導(dǎo)體、化學(xué)、材料等個(gè)中環(huán)境測試整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及應(yīng)力篩選試驗(yàn)以便對試品在擬定條件下的性能、行為作出分析及評價(jià)(快速變化)
3.皓天快速溫變試驗(yàn)機(jī),采用歐美先進(jìn)之防爆把手,外觀質(zhì)感高水準(zhǔn),全系列日制控制器,進(jìn)皆式設(shè)定,操作簡單,皓天快速升降溫試驗(yàn)箱可供作超低溫試驗(yàn),電子零組件,成品、半成品、半導(dǎo)體、化學(xué)、材料等個(gè)中環(huán)境測試設(shè)備
滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2.GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3.GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4.GB2423.1 低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A
5.GB2423.2 高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B
6.GB2423.22 溫度變化試驗(yàn)、試驗(yàn)N
7.IEC68-2-1 試驗(yàn)A
8.IEC68-2-2 試驗(yàn)B
9.IEC68-2-14 試驗(yàn)N
技術(shù)參數(shù):
溫度范圍:A:0~150、B:-20~150℃、C:-40~150℃、D-60~150℃、E:-70~150℃
濕度范圍:20~98%RH
溫度波動范圍:±0.3℃(-70~+100℃)±0.5℃(+100.1~+150℃)±2.5﹪rh
溫度均勻性: TEE-150PF、225PF、408PF、600PF
1、±1.0℃(-70~+100℃)
±1.5℃(+100.1~+150℃)
TEE-800PF、1000PF
2、±1.5℃(-70~+100℃)
±2.0℃(100~+150℃)
升溫時(shí)間:非線性升溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃)
線性升溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)
降溫時(shí)間:非線性升溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃)
線性升溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)
控 制 器:進(jìn)口可編程觸摸式液晶中文對話式顯示.微電腦集成控制器
精度范圍:設(shè)定精度:溫度0.1℃、濕度1%RH,指示精度:溫度0.1℃、濕度1%RH
傳 感 器:鉑金電阻 PT100Ω/MV
皓天試驗(yàn)箱尺寸表:
材料構(gòu)成
1 外壁材料:冷軋鋼板靜電雙面噴塑
2 內(nèi)壁材料:SUS304 不銹鋼板
3 絕熱材料:100mm 玻璃棉保溫層
3、結(jié)構(gòu)強(qiáng)度 試驗(yàn)箱承重能力:≤100Kg(均勻負(fù)載)
4、大門 全開單翼型箱門一扇,帶門鎖。門框兩道硅橡膠密封條,低溫室門框防結(jié)露電熱裝置
5、觀察窗 門上有1 個(gè)多層觀察窗,低溫室門上觀察窗帶鍍膜加熱以防止其冷凝和結(jié)霜
6、冷凝出水孔 具有工作室冷凝水和機(jī)組凝結(jié)水的引出孔
7、溢流孔 箱體后部居下位置設(shè)有一溢流孔,以便于冷凝水的流出。
皓天實(shí)物圖片:
制冷機(jī)采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機(jī),冷凍系統(tǒng)采用一元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。 采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì),風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn),并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。
升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率