Product category
電子產(chǎn)品的高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試
隨著電子技術(shù)的發(fā)展,電子產(chǎn)品的集成化程度越來越高,結(jié)構(gòu)越來越細(xì)微,工序越來越多,制造工藝越來越復(fù)雜,這樣在制造過程中會(huì)產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí),因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問題概括有兩類:
1、是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo),生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求;
2、是潛在的缺陷,這類缺陷不能用一般的測(cè)試手段發(fā)現(xiàn),而需要在使用過程中逐漸地被暴露,硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。
一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被激活(暴露)。顯然,對(duì)每只元器件測(cè)試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的,所以需要對(duì)其施加熱應(yīng)力和偏壓。
給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力,高低溫試驗(yàn)箱模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境,消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì),使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn),盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段,進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期。