快速溫變試驗(yàn)箱電子電工失效驗(yàn)證試驗(yàn)
簡要描述:快速溫變試驗(yàn)箱電子電工失效驗(yàn)證試驗(yàn)產(chǎn)品具有簡單的操作性能和可靠的設(shè)備性能為用戶檢驗(yàn)、檢測電子電工元器件、零配件或相關(guān)行業(yè)的實(shí)驗(yàn)部門提供一個(gè)模擬環(huán)境,為測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和*性(可重復(fù))提供*條件
產(chǎn)品型號: TEB-1000PF
所屬分類:TEB系列快速溫變試驗(yàn)箱
更新時(shí)間:2024-06-27
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
快速溫變試驗(yàn)箱電子電工失效驗(yàn)證試驗(yàn)
作用:
適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟邷氐蜏乜焖僮兓沫h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)。
特點(diǎn):
采用日本*“優(yōu)易控"品牌溫濕度儀表,7英寸高清真彩液晶觸摸顯示屏,帶給您觸覺和視覺的尊貴與舒適。設(shè)備具有強(qiáng)大的網(wǎng)絡(luò)監(jiān)視、控制網(wǎng)絡(luò)功能,即使您不在機(jī)器旁邊,也可以在電腦上實(shí)時(shí)操作、監(jiān)控,對設(shè)備的運(yùn)行情況了如指掌。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
1、GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
2、GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
3、GB/T2423.22-2002 溫度變化試驗(yàn)方法
快速溫變試驗(yàn)箱電子電工失效驗(yàn)證試驗(yàn)
性能:
型號:TEB-1000PF 溫度范圍:-20~150℃
工作室尺寸1000*1000*1000mm (寬×高×深)
溫濕度偏差≤±2℃/±3%RH
溫度范圍:A:0~150、B:-20~150℃、C:-40~150℃、D-60~150℃、E:-70~150℃
濕度范圍:20~98%RH
波動/均勻度:±0.5℃/+2℃
升溫時(shí)間3℃/分 5℃/分 10℃/分 15℃/分 20℃/分 25℃/分 30℃/分 非線性及線性均可
降溫時(shí)間3℃/分 5℃/分 10℃/分 15℃/分 20℃/分 25℃/分 30℃/分 非線性及線性均可
制冷工作原理:
溫度快速變化試驗(yàn)箱高低制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán),該循環(huán)由兩個(gè)等溫過程和兩個(gè)絕熱過程組成。其過程如下:制冷劑經(jīng)壓縮機(jī)絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高,之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進(jìn)行熱交換,將熱量傳給四周介質(zhì)。后制冷劑經(jīng)閥絕熱膨脹做功,這時(shí)制冷劑溫度降低。zui后制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱,使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復(fù)始從而達(dá)到降溫之目的
使用條件:
1、安裝場地
地面平整,通風(fēng)良好
設(shè)備周圍無強(qiáng)烈振動
設(shè)備周圍無強(qiáng)電磁場影響
設(shè)備周圍無易燃、易爆、腐蝕性物質(zhì)和粉塵
設(shè)備周圍留有適當(dāng)?shù)氖褂眉熬S護(hù)空間,
2、供電條件
電源要求:AC380V±10% 50±0.5Hz 三相五線制
要求用戶在安裝現(xiàn)場為設(shè)備配置相應(yīng)容量的空氣或動力開關(guān),并且此開關(guān)必須是獨(dú)立供本設(shè)備使用
3、環(huán)境條件
環(huán)境溫度:5℃~+30℃(24小時(shí)內(nèi)平均溫度≤30℃)
環(huán)境濕度:≤85%RH
4、其它注意事項(xiàng)
試驗(yàn)過程中打開試驗(yàn)箱的門,會造成箱內(nèi)的溫、濕度波動;在試驗(yàn)過程中如果多次打開門或長時(shí)間敞開門或試驗(yàn)樣品散發(fā)濕汽,可能會造成制冷系統(tǒng)換熱器結(jié)冰而無法正常工作
標(biāo)準(zhǔn)配置觀視窗(45*30cm),測試孔(¢50*1只),試料架(2組) 超溫保護(hù)器,視窗燈,時(shí)間信號接口(2組)